Перегляд за Автор "Volchanskyy, Oleh"
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
- Результатів на сторінці
- Налаштування сортування
Документ Thermal wave microscopy – a unique tool for non-destroying level-by-level diagnostics of semiconductor structures(КДПУ ім. В. Винниченка, 2013) Volchanskyy, Oleh; Волчанський, Олег Володимирович(UA) Пропонується спрощена теорія генерації фототермоакустичного сигналу, а також аналіз його залежності від оптичних, теплових і геометричних властивостей зразка. Обговорюються експериментальне обладнання та результати ФТА мікроскопії напівпровідникових структур.